FICO全光纤太赫兹时域光谱成像系统

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THz Advanced FICO全光纤太赫兹时域光谱成像系统是一套利用太赫兹波与物质相互作用原理，并与平面扫描架完美一体化融合。它通过发射特定频率的太赫兹波，穿透被检测物体，然后接收和分析反射、透射或散射的太赫兹信号，经过复杂的算法处理，将这些信号转化为直观的图像或数据，从而实现对物体内部结构、缺陷等情况的可视化检测。

 

- 组成部分

· TA-FICO太赫兹时域光谱仪、TA-FICO-Tx/Rx太赫兹天线、TA-SCAN I-HXY平面运动扫查系统或TA-SCAN II运动扫查系统（支持ATR）、TDSIS-FICO太赫兹软件分析系统

 

- 特点

· 平面扫描架与 THz 一体化设计,极大地简化了检测流程和设备大小。

· 针对平面物体检测时，能够快速完成全方位扫描，大幅提升检测效率 。其拥有极强的穿透性能，可轻松穿透多种材料，获取物体内部详细信息。

· 该系统与之配套的软件功能强大，集成了先进算法，不仅能进行快速光谱分析，精准解析物质成分与特性，还支持高效的三维分析，以直观立体的形式呈现检测目标的内部结构，为用户提供全面且深入的数据洞察。